组件工艺流程及常见异常处理
EL测试原理: 通过外部给晶硅组件施加正向偏臵电压,直流电源向晶体硅太阳电池注入大量非 平衡载流子,促使电池片内部电子和空穴不断地复合发光,放出光子,再利用CCD 相机捕捉到这些光子,通过计算机进行处理后以图像的形式显示出来,员工根据图 形
EL测试原理: 通过外部给晶硅组件施加正向偏臵电压,直流电源向晶体硅太阳电池注入大量非 平衡载流子,促使电池片内部电子和空穴不断地复合发光,放出光子,再利用CCD 相机捕捉到这些光子,通过计算机进行处理后以图像的形式显示出来,员工根据图 形
EL测试原理: 通过外部给晶硅组件施加正向偏臵电压,直流电源向晶体硅太阳电池注入大量非 平衡载流子,促使电池片内部电子和空穴不断地复合发光,放出光子,再利用CCD 相机捕捉到这些光子,通过计算机进行处理后以图像的形式显示出来,员工根据图 形
Isc偏低的原因:1、绒面较差光反射率较大;2、扩散方块电阻偏低磷掺杂过多;3、丝网印刷第三道出现虚印、断线或者副栅线宽度过宽等现象电流不能被有效地收集;4、烧结炉温度出现较大波动;1.容易理解。 1.汇流条焊接和返工区域严格按照sop手法进行操作2.人员抬放组件时严格按照工艺要求手法进行抬放组件. 3.确保层压机定期的保养.每做过设备的配件更换都要严格做好首件
2018年7月6日 · 通过对EL测试图像分析可以及时清晰的发现晶硅电池及组件内部存在的隐性缺陷,这些缺陷包括 硅材料缺陷(位错、层错、参杂异常)、扩散缺陷(方阻不均匀)、印刷缺陷(断栅、虚印)、烧结缺陷(履带印)、工艺污染以及组件封装过程中的隐形裂纹 等。
2019年7月30日 · 利用多种测试设备如EL、PL、corescan等检测硅片、半成品电池及成品电池存在的各种隐形缺陷,改善工艺参数,降低产品的不合格率,为公司提高成品率,大大的降低成本。 PL是检测原材料的有效方法,如Fig.2-1所示,以大于半导体硅片禁带宽度的光作为激发手段,激发硅中的载流子,当撤去光源后,处于激发态的电子属于亚稳态,在短时间内会回到基态,这一
2020年3月23日 · 摘要:结合在组件生产和电站质量管理中遇到的问题,对组件材料老化衰减及组件初始光致衰减原因进行了分析和实验测试,提出相应对策。
2020年3月19日 · 近日,一道新能联合三峡集团科学技术研究院共同研发的用于钙钛矿/TOPCon四端叠层组件的底电池和组件技术获得重大突破,搭载一道新能双面TOPCon底电池的钙钛矿/晶硅四端叠层组件完成批量出货,开始应用于三峡能源50MW光伏先进的技术技术发电示范基地
下面对电池片异常进行原因分析以及介绍太阳能电池片的使用注意事项,一起了解下。 (1) 电池片 在焊接或搬运过程中受外力造成。 (2)电池片在低温下没有经过预热在短时间内突然受到高温后出现膨胀造成隐裂现象。 (3)焊接时瞬间温度过高。 (1)在生产过程中避免电池片过于受到外力碰撞。 (2)在焊接过程中电池片要提前保温,烙铁温度要符合要求。 (3)EL测试要严
2024年10月12日 · 以下是一些减少隐裂发生的方法:1、提高电池片原材料质量:确保原电池的厚度均匀,减少线痕,采用科学的包装,以避免电池片内部出现隐裂。 2、检查串焊机各部件(吸盘、传输带等)是否有电池片碎渣,如果有电池片碎渣,需要及时清理。
2022年12月5日 · 1.电池片在焊接或搬运过程中受外力造成. 2.电池片在低温下没有经过预热在短时间内突然受到高 温后出现膨胀造成隐裂现象
2022年10月2日 · 原因分析: 这种异常明暗差异较大,未失效短路,主要怀疑组件端划片异常(需进一步排查);次要怀疑电池端人工合包混入B级等异常片; 改善措施: 组件端、电池端还需进一步分析验证。